ARCoptix的FT-NIR光纤光谱仪是一种方便灵活的近红外光谱测试工具，可以对各种样品和材料进行精确的漫反射测量。

根据应用要求，可提供不同的配置来体现其灵活性或灵敏度，特别是在高吸光度样品中。

配置一:外部光源和光纤探头

Y形分叉光纤束探头(R7-VIS-600-150F)将光发射到样品上。反射光通过光纤进入干涉仪(例如FTNIR-L1 026-TE)中进行收集和分析。

为了获得最佳结果，光源需要在所需波长范围内有足够的功率，并且光纤输出或光纤耦合系统的效率要足够高。

光源是一个为近红外测试设计的20W宽带光源(ARCLING-NIR)

探头由专用支架固定，可确保稳定性和可重复性，

使用支架有助于获取准确的参考光谱和测试光谱。可以使用高反射率的参考标准，例如上图所示的漫反射标准板。

然后通过将所需样品放置在全反射元件的位置来进行反射率测量

为了获得最佳结果，样品必须放置在与参考相同的照明条件下，这意味着将样品和参考放置在距离探头相同的距离。

另外一种操作是，手持光纤探头与专用适配器一起使用，如下图所示。

这允许在执行更准确和完整的测量之前快速获取各种样品大致的漫反射光谱

配置二:集成内部照明的积分球

为了实现高度可重复的漫反射测量，ARCoptix FT-NIR光谱仪可以连接到具有内部照明的专用积分球(ARCSPHERE-50-HAL)，如下所示。

球体内径为50毫米，配有5瓦卤素灯。这种设计提供了比通过光纤耦合光源进入积分球的传统方式高得多的信噪比(至少50倍)

样品可直接放置在10mm样品端口上(蓝宝石窗口)

除了全反射参考之外，这里建议额外获取暗参考光谱，以抑制背景发射的任何贡献，这可能源于蓝宝石窗口上的反射。

暗参考可以通过在没有任何样品的情况下扫描干涉仪来获得(如图所示)

为了确保高精度测量，必须特别注意保持样品窗口尽可能干净，特别是在与被测样品直接接触后。

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